SID显示周应用视觉与显示测量技术前瞻：从XR感知评价到Micro-LED光电检测来源：SID China（国际信息显示学会中国区）网址：https://www.sidchina.cn/nd.jsp?id=2704 2026 SID显示新技术研讨会即将于8月30日至31日在青岛颐海花园酒店（五四广场店）举行。SID China编辑部对本次研讨会的应用视觉与显示测量两大技术方向进行了前瞻梳理，该方向汇聚了来自中山大学、甬江实验室、柯尼卡美能达及杭州远方显示测量等机构的资深专家，将系统回顾2026 SID显示周在这一领域的最新研究进展与技术趋势。 应用视觉方向由中山大学秦宗副教授领衔，他将带来「SID'26应用视觉技术进展回顾」专题报告，系统梳理SID显示周在视觉感知、HDR、色貌模型等方向的前沿成果，帮助从业者把握显示画质评价体系的技术演进脉络。 显示测量方向由甬江实验室新型显示与感知研究中心副主任赵蕾研究员主讲「2026 SID显示周回顾：显示测量」，聚焦显示器件光电参数测量、成像色度测量及显示系统画质评价等关键测量技术标准的最新进展，同时覆盖交互显示与传感方向的回顾分享。 XR视觉感知质量与评价技术是本次研讨会的重要延伸方向。柯尼卡美能达中国投资有限公司技术经理朱天行将系统介绍「XR视觉感知质量与评价技术进展」，探讨VR与AR设备在近眼显示场景下的视觉舒适度、畸变校正、色彩一致性等核心评价指标与技术方法。 Micro-LED检测方向由杭州远方显示测量客户经理唐宪带来「Micro-LED关键性能及光电检测技术」专题报告，该技术荣获CDIA获奖技术称号。报告将围绕Micro-LED器件的光效、色度均匀性、寿命衰减等关键性能指标，深入解析光电检测方法与标准化进展，为Micro-LED产业化良率提升提供技术支撑。
图：SID显示周应用视觉与显示测量技术前瞻：从XR感知评价到Micro-LED光电检测（图片来源：本刊编辑部整理） |
